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nanodeviceflakedetectalign
Register source microscope images to the full_stack coordinate system using SIFT (same-substrate) or Chamfer+DE (cross-substrate) alignment. Use when aligning bottom_part, top_part, or other source images to the full_stack reference image for van der Waals stack detection.
maintainer
caidish
更新日 3/24/2026
スター
11
フォーク
2
quick start
Installation and usage
Register source microscope images to the full_stack coordinate system using SIFT (same-substrate) or Chamfer+DE (cross-substrate) alignment. Use when aligning bottom_part, top_part, or other source images to the full_stack reference image for van der Waals stack detection.
インストール
$ install --globalskills.sh
使い方
インストール後、ターミナルで以下のコマンドを実行してこのスキルを使用できます：
skills use nanodeviceflakedetectalign